فیلترها/جستجو در نتایج    

فیلترها

سال

بانک‌ها




گروه تخصصی










متن کامل


اطلاعات دوره: 
  • سال: 

    1385
  • دوره: 

    7
تعامل: 
  • بازدید: 

    552
  • دانلود: 

    490
کلیدواژه: 
چکیده: 

در برخی از مقالات مربوط به گیرنده های نوری سلنیومی، از سلنیوم هگزاگونال زنجیره ای، مانند ساختار گوگرد صحبت به میان آمده است همچنین در بیشتر مقالات مربوط به صفحه های گیرنده نوری پایه سلنیومی از سل نیوم بی شکل (a-Se) صحبت می شود. برای مشخص شدن این موضوع ساختار بلورین و مرفولوژی لایه های نازک سلنیوم در میکروسکوپ الکترونی عبوری ((TEM)) مورد مطالعه و بررسی قرار گرفت. با پراش الکترون زاویه کوچک می توان ساختار ریزدانه های بلورین را در محدوده بسیار کوچکی (حدود 5nm) بررسی کرد، در صورتی که این کار به خاطر طول موج بزرگ تر اشعه ایکس مقدورنمی باشد سلنیوم دارای پنج ساختار بلورین شناخته شده است، که محدوده دمایی آنها، بسیار به هم نزدیک می باشد. و لذا تغییرات جزیی دما باعث تبدیل یک ساختار به ساختارهای دیگر می شود.در این تحقیق، ابتدا به روش تبخیر فیزیکی در خلا (PVD) لایه های نازک سلنیوم کاملا بی شکل در فشار 10-6mmHg و دمای زیرلایه در دمای محیط، لایه هایی به ضخامت 20-50nm به دست آمد سپس بعد از انتقال لایه روی نگهدارنده نمونه الکترونی، لایه های مذکور را ضمن مشاهده و پراش الکترونی، همزمان با تابش اشعه الکترون در درون میکروسکوپ الکترونی عبوری ((TEM)) تحت تاثیر عملیات حرارتی قرار گرفت. آزمایشها نشان داد که لایه ها در محدوده کوچک به صورت تک بلورهای هگزاگونال بودند از این آزمایش ها می توان نتیجه گرفت، که تک بلورهای ریز سلنیوم به طور نامنظم توزیع شده اند، که به آنها ریزبلورهای بی شکل گفته می شود. سلنیوم در این محدوده دمایی 125 درجه سانتی گراد دارای ساختار هگزاگونال زنجیره ای می باشد.

شاخص‌های تعامل:   مرکز اطلاعات علمی Scientific Information Database (SID) - Trusted Source for Research and Academic Resources

بازدید 552

مرکز اطلاعات علمی Scientific Information Database (SID) - Trusted Source for Research and Academic Resourcesدانلود 490
نویسندگان: 

شبکیه ساناز

اطلاعات دوره: 
  • سال: 

    1398
  • دوره: 

    7
  • شماره: 

    3 (پیاپی 27)
  • صفحات: 

    20-32
تعامل: 
  • استنادات: 

    0
  • بازدید: 

    701
  • دانلود: 

    345
چکیده: 

لطفا برای مشاهده چکیده به متن کامل (PDF) مراجعه فرمایید.

شاخص‌های تعامل:   مرکز اطلاعات علمی Scientific Information Database (SID) - Trusted Source for Research and Academic Resources

بازدید 701

مرکز اطلاعات علمی Scientific Information Database (SID) - Trusted Source for Research and Academic Resourcesدانلود 345 مرکز اطلاعات علمی Scientific Information Database (SID) - Trusted Source for Research and Academic Resourcesاستناد 0 مرکز اطلاعات علمی Scientific Information Database (SID) - Trusted Source for Research and Academic Resourcesمرجع 0
اطلاعات دوره: 
  • سال: 

    1399
  • دوره: 

    7
  • شماره: 

    4 (پیاپی 28)
  • صفحات: 

    30-34
تعامل: 
  • استنادات: 

    0
  • بازدید: 

    1724
  • دانلود: 

    309
چکیده: 

لطفا برای مشاهده چکیده به متن کامل (PDF) مراجعه فرمایید.

شاخص‌های تعامل:   مرکز اطلاعات علمی Scientific Information Database (SID) - Trusted Source for Research and Academic Resources

بازدید 1724

مرکز اطلاعات علمی Scientific Information Database (SID) - Trusted Source for Research and Academic Resourcesدانلود 309 مرکز اطلاعات علمی Scientific Information Database (SID) - Trusted Source for Research and Academic Resourcesاستناد 0 مرکز اطلاعات علمی Scientific Information Database (SID) - Trusted Source for Research and Academic Resourcesمرجع 0
مرکز اطلاعات علمی Scientific Information Database (SID) - Trusted Source for Research and Academic Resources
نویسندگان: 

شبیکه ساناز

اطلاعات دوره: 
  • سال: 

    1397
  • دوره: 

    6
  • شماره: 

    4 (پیاپی 24)
  • صفحات: 

    32-42
تعامل: 
  • استنادات: 

    0
  • بازدید: 

    1114
  • دانلود: 

    730
چکیده: 

میکروسکوپ الکترونی عبوری مرسوم به منظور تحقق عملیات تحلیل و تصویربرداری از نمونه های حوزه های مختلف در مقیاس نانومتر مورد استفاده قرار می گیرد. پژوهشگران حوزه های مختلف برای برآورده ساختن نیازمندی های خود از تجهیزات جانبی به همراه میکروسکوپ الکترونی عبوری استفاده نموده یا تغییراتی را درون ساختار کلی میکروسکوپ ایجاد می کنند. در اینجا از میان خانواده میکروسکوپ های الکترونی عبوری، میکروسکوپ الکترونی عبوری با قابلیت فیلتر کردن انرژی بررسی می شود. این میکروسکوپ حدود یک دهه پیش اختراع شد و در حال حاضر نیز به عنوان یک ابزار تحلیل کاربردی در حوزه شناسایی مواد مورد استفاده قرار می گیرد. طراحی این میکروسکوپ براساس اصول فیزیکی طیف سنجی افت انرژی الکترون و بکارگیری دو نوع فیلتر انرژی: 1-درون ستونی و 2-بعد از ستون امکان پذیر است. میکروسکوپ الکترونی عبوری با قابلیت فیلتر کردن انرژی به منظور تهیه تصاویر از ریز ساختارها از نوار انرژی باریکی متشکل از الکترون های پراکنده غیرالاستیک استفاده می کند. به دلیل ساده بودن عملیات این نوع فیلترها هم اکنون می توان در مدت چند دقیقه تصاویری واضح از عنصری معین در نمونه را بدست آورد. به منظور حصول بهترین نتیجه، داشتن دانشی بنیادین از قوانین فیزیک بکار رفته در روش EELS و قدرت تحلیل اصولی جزئیات فنی ضروری است [1]. البته آشنایی با ساختار فیلترهای انرژی موجود و کاربردهای EF(TEM) در حوزه های مختلف نیز از اهمیت بالایی برخوردار است.

شاخص‌های تعامل:   مرکز اطلاعات علمی Scientific Information Database (SID) - Trusted Source for Research and Academic Resources

بازدید 1114

مرکز اطلاعات علمی Scientific Information Database (SID) - Trusted Source for Research and Academic Resourcesدانلود 730 مرکز اطلاعات علمی Scientific Information Database (SID) - Trusted Source for Research and Academic Resourcesاستناد 0 مرکز اطلاعات علمی Scientific Information Database (SID) - Trusted Source for Research and Academic Resourcesمرجع 0
نویسندگان: 

شبیکه ساناز

اطلاعات دوره: 
  • سال: 

    1398
  • دوره: 

    7
  • شماره: 

    1 (پیاپی 25)
  • صفحات: 

    27-37
تعامل: 
  • استنادات: 

    0
  • بازدید: 

    1822
  • دانلود: 

    788
چکیده: 

در مقاله پیشین با عنوان «معرفی اصول پایه ای میکروسکوپ الکترونی عبوری با قابلیت فیلتر کردن انرژی» (منتشر شده در شماره 24-زمستان 97 فصلنامه تخصصی دانش آزمایشگاهی ایران)، پیش زمینه ای جامع درباره اصول بنیادین چگونگی تشکیل تصویر نهایی در میکروسکوپ الکترونی عبوری با قابلیت فیلتر کردن انرژی در اختیار خواننده محترم قرار گرفته است. در این مقاله که هم اکنون مورد مطالعه قرار خواهد گرفت، ساختار دو فیلتر انرژی تجاری پرکاربرد با عناوین: فیلترهای درون ستونی و فیلترهای بعد از ستون که به ترتیب درون و زیر میکروسکوپ الکترونی عبوری مستقر بوده به طور تفصیلی بررسی شده است. کاربران حوزه های مختلف باید به منظور برطرف نمودن نیازمندی های خود، آشنایی مقدماتی با این دستگاه ارزشمند را داشته باشند. این امر به کاربران کمک می کند تا تشخیص دهند چه زمانی برای دستیابی به نتایجی خاص و مطلوب در حوزه ای مشخص از دستگاه ارزشمند EF(TEM) استفاده کنند. لذا به منظور درک بهتر موارد استفاده خاص و مزایای میکروسکوپ الکترونی عبوری با قابلیت فیلتر کردن انرژی، کاربرد این دستگاه در حوزه های مختلفی نظیر: زیست شناسی، پلیمر، نیمه هادی ها و نانولوله های کربنی شرح داده شده است.

شاخص‌های تعامل:   مرکز اطلاعات علمی Scientific Information Database (SID) - Trusted Source for Research and Academic Resources

بازدید 1822

مرکز اطلاعات علمی Scientific Information Database (SID) - Trusted Source for Research and Academic Resourcesدانلود 788 مرکز اطلاعات علمی Scientific Information Database (SID) - Trusted Source for Research and Academic Resourcesاستناد 0 مرکز اطلاعات علمی Scientific Information Database (SID) - Trusted Source for Research and Academic Resourcesمرجع 0
نویسندگان: 

شبیکه ساناز

اطلاعات دوره: 
  • سال: 

    1400
  • دوره: 

    9
  • شماره: 

    2 (پیاپی 34)
  • صفحات: 

    24-34
تعامل: 
  • استنادات: 

    0
  • بازدید: 

    152
  • دانلود: 

    65
چکیده: 

لطفا برای مشاهده چکیده به متن کامل (pdf) مراجعه فرمایید.

شاخص‌های تعامل:   مرکز اطلاعات علمی Scientific Information Database (SID) - Trusted Source for Research and Academic Resources

بازدید 152

مرکز اطلاعات علمی Scientific Information Database (SID) - Trusted Source for Research and Academic Resourcesدانلود 65 مرکز اطلاعات علمی Scientific Information Database (SID) - Trusted Source for Research and Academic Resourcesاستناد 0 مرکز اطلاعات علمی Scientific Information Database (SID) - Trusted Source for Research and Academic Resourcesمرجع 0
مرکز اطلاعات علمی Scientific Information Database (SID) - Trusted Source for Research and Academic Resources
اطلاعات دوره: 
  • سال: 

    1382
  • دوره: 

    1
  • شماره: 

    1
  • صفحات: 

    37-41
تعامل: 
  • استنادات: 

    0
  • بازدید: 

    1508
  • دانلود: 

    0
چکیده: 

هدف: با توجه به تکرار اپیدمی های وبا در ایران و کشورهای مجاور و مرگ و میر آن، بر آن شدیم تا برای اولین بار در ایران فنوتیپ سروتایپهای Ogawa, Inaba از بیوتایپهای التور و کلاسیک ویبریوکلرا O1 با میکروسکوپ الکترونی Transmission. Scanning مورد بررسی قرار دهیم. این تحقیق به روش توصیفی انجام گرفته است. قابل ذکر است که سروتایپ Inaba بیوتایپ التور ویبریوکلرا O1 بعنوان سویه اپیدمی وبا در ایران در سال 1378 شناخته شده است. مواد و روشها: تحقیق بر روی 4 سوش عامل پاندمیهای ششم و هفتم کلرا و با استفاده از میکروسکوپ الکترونی انجام گرفته است. از 4 سوش سروتایپهای Inaba, Ogawa بیوتایپهای التور و کلاسیک 10 بار عمل فیکساسیون تکرار شد و هر بار چندین بلوک تهیه گردید که از کل 35 بلوک تهیه شده ده برش مناسب از باکتری در انبوهی از پروتئینها بدست آمد. یافته ها و نتیجه گیری: با توجه به ابعاد بدست آمده از دو سروتایپ بیوتایپهای التور و کلاسیک ویبرکلرا و طول و تعداد و موقعیت فلاژل و انبوهی ریبوزمها در آنها و جداول ارائه شده سروتایپ Inaba التور بزرگتر از سروتایپ Ogawa التور و از سروتایپهای کلاسیک بزرگتر هستند، فلاژل آن نیز بزرگتر مشاهده شد. بنا به تصاویر بدست آمده ژنوم بیوتایپ کلاسیک، فشرده تر از التور دیده می شود.

شاخص‌های تعامل:   مرکز اطلاعات علمی Scientific Information Database (SID) - Trusted Source for Research and Academic Resources

بازدید 1508

مرکز اطلاعات علمی Scientific Information Database (SID) - Trusted Source for Research and Academic Resourcesدانلود 0 مرکز اطلاعات علمی Scientific Information Database (SID) - Trusted Source for Research and Academic Resourcesاستناد 0 مرکز اطلاعات علمی Scientific Information Database (SID) - Trusted Source for Research and Academic Resourcesمرجع 0
اطلاعات دوره: 
  • سال: 

    1397
  • دوره: 

    37
  • شماره: 

    2
  • صفحات: 

    61-66
تعامل: 
  • استنادات: 

    0
  • بازدید: 

    978
  • دانلود: 

    349
چکیده: 

در این پژوهش، یک روش نوین پردازش تصویر برای جداسازی و اندازه گیری نانوذره ها در تصویرهای میکروسکوپ الکترونی عبوری((TEM)) ارایه شده است. در این روش، با پیش پردازش یک نمونه تصویر (TEM)، که توسط صافی غیرخطی مدین و یکنواخت سازی هیستگرام صورت گرفت، روشنی آن بهبود یافته و سپس براساس آستانه گذاری، تصویر (TEM)به تصویر باینری تبدیل شد. در مرحله بعدی، نانوذره ها به صورت گروه های جداگانه تفکیک شده و مورد آنالیز قرار گرفتند و قطر آن ها بر اساس تحلیل مساحت محاسبه شد. برای اعتبارسنجی روش پیشنهادی، الگوریتم ارایه شده بر روی نمونه ای دیگر از عکس (TEM)نانوذره ها، آزمایش شده و با نتیجه های دیده شده مقایسه شد. نتیجه ها نشان داد روش ارایهشده، توانایی دقیق و سریعی در بررسی برخط تصویرهای (TEM)به صورت به طور کامل هوشمند را دارد که امکان استفاده را برای کاربردهای پژوهشی با تصویرهای زیاد فراهم می آورد.

شاخص‌های تعامل:   مرکز اطلاعات علمی Scientific Information Database (SID) - Trusted Source for Research and Academic Resources

بازدید 978

مرکز اطلاعات علمی Scientific Information Database (SID) - Trusted Source for Research and Academic Resourcesدانلود 349 مرکز اطلاعات علمی Scientific Information Database (SID) - Trusted Source for Research and Academic Resourcesاستناد 0 مرکز اطلاعات علمی Scientific Information Database (SID) - Trusted Source for Research and Academic Resourcesمرجع 0
نویسندگان: 

شبیکه ساناز

اطلاعات دوره: 
  • سال: 

    1401
  • دوره: 

    10
  • شماره: 

    2 (پیاپی 38)
  • صفحات: 

    25-37
تعامل: 
  • استنادات: 

    0
  • بازدید: 

    126
  • دانلود: 

    48
چکیده: 

لطفا برای مشاهده چکیده به متن کامل (PDF) مراجعه فرمایید.

شاخص‌های تعامل:   مرکز اطلاعات علمی Scientific Information Database (SID) - Trusted Source for Research and Academic Resources

بازدید 126

مرکز اطلاعات علمی Scientific Information Database (SID) - Trusted Source for Research and Academic Resourcesدانلود 48 مرکز اطلاعات علمی Scientific Information Database (SID) - Trusted Source for Research and Academic Resourcesاستناد 0 مرکز اطلاعات علمی Scientific Information Database (SID) - Trusted Source for Research and Academic Resourcesمرجع 0
اطلاعات دوره: 
  • سال: 

    1380
  • دوره: 

    12
  • شماره: 

    4
  • صفحات: 

    81-94
تعامل: 
  • استنادات: 

    0
  • بازدید: 

    776
  • دانلود: 

    0
چکیده: 

درمقاله حاضر فازهای رسوبی، مانند مناطق G.P و سایر فازهای انتقالی که در اثر تجزیه فاز دمای بالای فوق اشباع روی- آلومینیم (40% وزنی)- مس (2% وزنی)، به وسیله فرایند عملیات حرارتی پیرسازی در دمای 100 درجه سانتیگراد و در زمان های مختلف تشکیل می شوند، مورد بررسی قرار گرفته اند. میکروسکوپ الکترونی عبوری (T.E.M)، روبشی (S.E.M) و روبشی- عبوری (S.T.E.M) جهت اهداف موصوف مورد استفاده قرار گرفتند.

شاخص‌های تعامل:   مرکز اطلاعات علمی Scientific Information Database (SID) - Trusted Source for Research and Academic Resources

بازدید 776

مرکز اطلاعات علمی Scientific Information Database (SID) - Trusted Source for Research and Academic Resourcesدانلود 0 مرکز اطلاعات علمی Scientific Information Database (SID) - Trusted Source for Research and Academic Resourcesاستناد 0 مرکز اطلاعات علمی Scientific Information Database (SID) - Trusted Source for Research and Academic Resourcesمرجع 0
litScript
telegram sharing button
whatsapp sharing button
linkedin sharing button
twitter sharing button
email sharing button
email sharing button
email sharing button
sharethis sharing button